HYG係列智能逐級耐壓試驗台

產(chan) 品簡介

滿足ANSE D149 12.1.1&12.1.2具體(ti) 見下：

12.1.1 

方法A，短時測試：

按照表1中其中一個(ge) 速率應用電壓從(cong) 0開始到測試電極中直到發生擊穿。使用短時測試，除非另有規定。

初步建立一個(ge) 速率，該速率應該包含在新規格中。為(wei) 試樣品選擇一個(ge) 速率，給出10s到20s之間擊穿的平均時間。該方法在初期*到第二步的試驗中對於(yu) 判斷的上升速率很有必要。很多材料使用的是500 V/s的速率。

如果文件中有明確規定該測試方法的上升速率，則該速率應該被一直使用，盡管測試中有時候擊穿平均時間超出10s到20s的範圍。在這種情況下，故障時間應該在報告中指出。

在運行一些列的測試對比不通的材料時，使用的上升速率應考慮故障平均時間10s到20s之間。如果擊穿時間不符，也應該在報告中指出。

HYG係列智能逐級耐壓試驗台

方法B，一步一步測試：

測試電極應用電壓以啟動電壓開始，然後按照電壓測試步驟和持續時間試驗，直到發生擊穿。

從(cong) 表2中選出初始電壓，選擇zui接近短時測試中試驗或判斷出的擊穿電壓的50%。

如果初始電壓不同於(yu) 表2中的電壓值，建議電壓步驟以低於(yu) 所選值的初選電壓的10%.

從(cong) 0開始快速升壓，但不超過6.1.3中允許的峰值電壓，使用該方法應用初始電壓。類似的要求適用於(yu) 用於(yu) 增加連續步驟之間的電壓的過程。升壓到後續步驟所需的時間也算後麵步驟花時的一部分。

當電壓上升到下一步驟時發生擊穿，則試樣具有持續介電耐壓，電壓值等於(yu) 剛結束的那一步驟的結束電壓。如果擊穿是發生在任何一步的保持期之前，試樣的介電耐壓值為(wei) 上一步結束電壓。擊穿電壓用於(yu) 計算介電擊穿強度。介電耐壓強度則通過厚度和介電耐壓值計算出來。

在第四到第十步發生的擊穿，但不低於(yu) 120s。在同組多個(ge) 試樣測試中，若故障發生在第三步或更前，或者低於(yu) 120s,以較低的初始電壓重複測試。若在第十二步之前或者720s以後故障都沒有發生，則提高初始電壓。 

記錄初始電壓，電壓步驟，擊穿電壓，以及保持擊穿電壓的時長。如果電壓上升到啟動電壓故障才發生，則故障時間為(wei) 0.

電壓測試步驟中列明的時長，取決(jue) 於(yu) 測試目的。通常使用的時長是20秒和300秒（5分鍾）。

出於(yu) 研究目的，在給定的材料的多個(ge) 時間間隔進行測試也是具有價(jia) 值的。

泄露電流迅速上升可能導致試樣在不可見的分解下電壓源跳閘。這種故障通常伴隨著升溫條件下的微升測試，在某些情況下是可逆的，也就是說，如果試樣在再次應用電壓前冷卻到原始測試溫度，介電強度是可以恢複的。在這種故障發生時電壓源在相當低的電流下必須快速跳閘。

電壓源跳閘可能因為(wei) 閃絡、局部放電電流、高電容試樣的無功電流，或斷路器故障而發生。這樣的測試中斷不會(hui) 構成擊穿（除了閃絡測試）並且不可稱為(wei) 滿意的測試。

技術參數

1.1  短時（快速）試驗

1.1.1  將試驗電壓由零開始以均勻的速度升高直擊穿發生。

1.1.2  對被試材料選擇升壓速度時，應使大多數擊穿發生在（10—20）s之間，

        對於(yu) 擊穿電壓有顯著差異的材料，也有可能在這個(ge) 時間範圍以外發生破壞。

        如果大多數擊穿都發生在（10—20）s之間，則認為(wei) 試驗是成功的。

1.1.3   升壓速度應從(cong) 下述中選取：100V/s，200V/s，500V/s，1000V/s，2000V/s，5000V/s，

       （注：對於(yu) 大多數材料，通常使用500V/s的升壓速度，對模塑材料，推薦使用2000V/s升壓速度，以便獲得與(yu) IEC60296：2003相適應的可比數據。）

1.2  20s逐級升壓試驗

1.2.1將40%的預計短時擊穿電流施加於(yu) 試樣上。假如不知道短時擊穿電壓預計值，

      則應按1.1的方法來得到。    

1.2.2假如試樣耐壓受這個(ge) 電壓20s還未擊穿，則應按國家標準

      GB/T 1408.1-2006/IEC 60243-1：1998 表1規定的增量逐級增加電壓。

      每一次增加的電壓應立即且連續施加20s直至發生擊穿。

1.2.3升壓要盡可能地快並無任何瞬態過電壓。級間升壓所用的時間應包括在

      較高一級電壓的20s期間內(nei) 。

1.2.4如果擊穿發生在從(cong) 起始試驗算起少於(yu) 6級的電壓內(nei) ，則用更低的起始電壓再做5個(ge) 試樣試驗

1.2.5根據試樣能耐受20s而不擊穿的zui高試驗電壓來確定電氣強度。

1.3  慢速升壓實驗（120—240）s

      從(cong) 40%的預計短時擊穿電壓開始勻速升壓，使擊穿發生在（120—240）s之間。對於(yu) 擊穿電壓有顯著差異的材料來說，有些試樣可能在此時間範圍以外發生破壞。如果大多數擊穿發生在（120—240）s之間，則認為(wei) 是滿意的。選擇升壓速度時應從(cong) 下列數據中開始選擇：

             2V/s，5V/s，10V/s，20V/s，50V/s100V/s，200V/s，500V/s，1000V/s，等等。

1.4  60s逐級升壓試驗

      除非另有規定，應按1.2進行試驗，但每一級中的耐壓時間為(wei) 60s。

1.5  極慢速升壓試驗（300—600）s

     除非另有規定，應按1.3進行試驗，但擊穿應發生在（300—600）s之間。從(cong) 下列數據中

     選擇升壓速度：1V/s，2V/s，5V/s，10V/s，20V/s，50V/s，100V/s，200V/s，等等。

1.6  檢查試驗

     當做檢查或耐壓試驗時，要求施加一個(ge) 預先確定的電壓值。即將該電壓盡可能快而準確地升到所要求的值，升壓過程中不出現任何瞬態的過電壓。然後將所要求的電壓值維持到規定時間。

其它

1、包裝方式：30公斤以上，木箱
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